原先设计是作为服务器内存模块的测试平台，金士顿KT2400动态Burn-in测试器是能够用来测试多种不同的内存模块规格。
金士顿科技全球测试工程副总裁以及KT2400 测试器的发明者之一的Dr. Ramon Co 指出:“我们对于KT2400能够得到美国专利感到十分欣喜。在设计KT2400初期，我们的使命为创造一个能够让内存模块经过最严格电池电源测试的测试平台环境，仿真出一个最苛刻的服务器环境。最普遍的内存问题是早期故障(ELF)，即电子元件在内存正常工作的前三个月内停止运作。我们的目标是设计出一个能够仿真ELF阶段环境、并且能够筛选出任何不可靠模块的测试平台。”
KT2400 Burn-In Testing 结果
由于使用了特殊设计的测试主板——高级模式测试控制器Advanced Pattern Testing Controllers，每一个KT2400测试器可以同时检测500个模组在测试的过程中，服务器内存在高温、高压强和高电压的环境下进行持续不断检验，制造出模拟模组最少被使用三个月的老化效果。因此，那些会有不良情况出现的不可靠内存模块能够在出厂前被过滤出。
